Hiện nay, các tiêu chuẩn an toàn của pin lithium ion trong ngành chủ yếu bao gồm các tiêu chuẩn quốc tế (như tiêu chuẩn IEC), tiêu chuẩn quốc gia hoặc khu vực (như tiêu chuẩn JIS, CB, EN, v.v.) và các tiêu chuẩn ngành (như UL, IEEE , SJ, tiêu chuẩn QB, v.v.).

Trong các tiêu chuẩn hiện hành này, các phương pháp thử nghiệm quy định ở nhiệt độ cao chủ yếu bao gồm thử nghiệm lạm dụng nhiệt, thử nghiệm chu trình nhiệt độ, thử nghiệm đặt ở nhiệt độ cao, v.v.

Kiểm tra lạm dụng nhiệt

Phương pháp thử nghiệm lạm dụng nhiệt được quy định trong IEC 62133 là đặt pin đã sạc đầy ổn định ở nhiệt độ phòng vào buồng có nhiệt độ và độ ẩm không đổi có đối lưu không khí tự nhiên hoặc tuần hoàn. Buồng được làm nóng lên tới 130oC ± 2oC với tốc độ 5oC/phút ± 2oC/phút. Giữ nhiệt độ này, dừng kiểm tra sau 10 phút, kiểm tra xem pin có cháy hay nổ không. Thử nghiệm lạm dụng nhiệt của IEC 62133 được áp dụng theo JIS C8712, YD 1268, UL 1642 và các tiêu chuẩn trong và ngoài nước khác.

Thử nghiệm lạm dụng nhiệt thường được sử dụng để đánh giá độ an toàn của pin khi đặt ở nhiệt độ cao. Mẫu pin ở trạng thái được sạc đầy trong quá trình thử nghiệm và mẫu không được sạc hoặc xả trong quá trình thử nghiệm.

Kiểm tra chu kỳ nhiệt độ

Phương pháp thử nghiệm chu trình nhiệt độ được quy định trong IEC 62281 là đặt pin hoặc bộ pin ở môi trường 75oC trong ít nhất 6 giờ, sau đó ở môi trường -40oC trong ít nhất 6 giờ. Thời gian chuyển đổi giữa các nhiệt độ khác nhau không quá 30 phút và thực hiện tổng cộng 10 chu kỳ nhiệt độ. Sau khi thử nghiệm, mẫu không được bắt lửa hoặc nổ và không bị giảm chất lượng và mất điện áp. Thử nghiệm chu trình nhiệt độ của IEC 62281 được trích dẫn từ UN 38.3 và phương pháp thử nghiệm cũng được áp dụng bởi EN 62281, CB 21966 và các tiêu chuẩn trong và ngoài nước khác.

Thử nghiệm chu kỳ nhiệt độ thường được sử dụng để mô phỏng sự an toàn của pin hoặc bộ pin trong điều kiện nhiệt độ thay đổi nhiều lần trong quá trình vận chuyển. Trong quá trình thử nghiệm, mẫu pin ở trạng thái được sạc đầy và mẫu không được sạc hoặc xả trong quá trình thử nghiệm.

Thử nghiệm giảm căng thẳng ở nhiệt độ cao

Phương pháp thử nghiệm khả năng giảm căng thẳng ở nhiệt độ cao (khả năng chịu được nhiệt độ cao của vỏ đúc) được quy định trong IEC 62133 là đặt bộ pin trong môi trường có nhiệt độ 70oC±2oC trong 7h. Sau khi thử nghiệm, vỏ hộp pin không được bị biến dạng vật lý làm lộ thành phần bên trong. Thử nghiệm giảm căng thẳng của IEC 62133 được áp dụng bởi EN 62133, JIS C8712 và các tiêu chuẩn khác.

Thử nghiệm giảm căng thẳng ở nhiệt độ cao thường được sử dụng để kiểm tra khả năng duy trì tính toàn vẹn của vỏ pin trong môi trường nhiệt độ cao. Trong quá trình thử nghiệm, mẫu pin ở trạng thái sạc đầy và không thực hiện sạc hoặc xả trong quá trình thử nghiệm.